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軟片的基線和厚度測量點(diǎn)擊次數(shù):1347 更新時(shí)間:2013-12-09

軟片的基線和厚度測量

軟片的基線和厚度測量
應(yīng)用范圍:測量隱形眼鏡的基準(zhǔn)曲線和厚度
技術(shù)背景:
在20世紀(jì)70年代,我們開發(fā)出了檢測隱形眼鏡的超聲波測厚儀,采用超聲波測厚儀可以測量用于基準(zhǔn)曲線計(jì)算的隱形眼鏡的矢量高度,以及鏡片的厚度,不會(huì)出現(xiàn)采用其他技術(shù)會(huì)使鏡頭產(chǎn)生物理失真的錯(cuò)誤,超聲波測量速度快,可持續(xù)進(jìn)行,性能可靠,而且不用操作人員進(jìn)行任何解釋說明,的38DLP型測厚儀加載了特殊的軟件,結(jié)合基準(zhǔn)曲線的計(jì)算,可以同時(shí)測量矢量高度和厚度。
使用設(shè)備:
測厚儀:38DLP型
探頭:M316-SU F=0.75(20MHZ,0.125in元直徑)
夾具:B-200型隱形眼鏡夾具或同等設(shè)備
注意:也可以使用35型或35DL型矢測厚儀來測量矢量高度或鏡片厚度,但這些儀器一次只能進(jìn)行一種類型的測量,并且不會(huì)自動(dòng)計(jì)算基準(zhǔn)曲線。
 
聯(lián)系人:劉浩宇
手機(jī)
13524456758
電話
86-021-56374192,56615309
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